主营产品:X射线荧光光谱仪

日立手持式表面铜厚度测厚仪采用微电阻技术,实现对表面铜的准确测量
CMI563提供先进的技术,可对表面铜实施准确的测量,同时确保PCB的背面铜箔不会干扰到读数(不考虑覆铜板的厚度)。借助我们的CMI563,您可轻松实现覆铜板、化学铜或有电镀铜的精确厚度测量。该仪表是如下方面的理想之选:
PCB制造和装配。
面铜厚度。
我们的CMI563可对柔性或刚性的单面、双面或多层板材实施强性能的表面铜厚度测量。
SRP-4探针
日立手持式表面铜厚度测厚仪CMI563仪表标配带系绳和用户可更换的SRP-4探针。这一探针设计采用4个牢固封入的插脚以实现耐用性。其透明外壳便于放置。系绳电缆适合于现场应用,并且其占用很小的面积,从而带来便利性。
微电阻技术
借助微电阻技术,CMI563可高度准确地测量化学铜和电镀铜,甚至可进行微区测量。其使用四点接触方式产生电信号。电流在样品的外部插脚之间穿行,此时测量内部插脚之间的电压下降。

