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主营产品:X射线荧光光谱仪
  • CMI760日立多功能台式分析测量仪测厚仪
    CMI760日立多功能台式分析测量仪测厚仪
    日立多功能台式分析测量仪测厚仪CMI760接受多种探针类型,可满足几乎任何PCB应用,包括表面铜和孔铜应用。 我们的CMI760标配SRP-4探头,并采用先进的统计软件显示测试数据。该仪器具备高度可扩展性,能够实施微电阻和涡电流测试,以准确地高精度测量铜厚。我们提供选购的附件来测量孔铜厚度。
  • CMI730日立多功能台式分析测量仪测厚仪
    CMI730日立多功能台式分析测量仪测厚仪
    日立多功能台式分析测量仪测厚仪CMI730专门为要求在苛刻电镀环境下实现可靠性的金属版工、涂漆工和质量专业人员而设计。它的显示在几英尺之外也清晰可见,并且可几乎任何角度查看。
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